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技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES破解不規(guī)則粗糙樣品的多維密碼——AFM/SEM二合一顯微鏡
2024-12-05 近年來有研究發(fā)現(xiàn)，納米顆粒的粗糙度對其性質(zhì)和功能有顯著的影響，清晰的理解表面粗糙度對外部刺激的反應(yīng)和相互作用，可以為預(yù)測納米顆粒在遞送、分布等現(xiàn)象中的行為提供可靠信息。因此獲得表面粗糙度信息對材料性能的研究具有重要的意義。目前，常通過光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡測量這種特性，但光學(xué)顯微鏡僅能在毫米尺度上定位納米顆粒的突起處，AFM對表面不平整樣品的定位非常有挑戰(zhàn)性。美國QuantumDesign公司推出的AFM/SEM二合一顯微鏡FusionScope，將SEM、AFM以及EDS...Science等高水平文章匯總！低溫納米位移臺助力二維材料取得豐碩成果！
2024-12-03 1.NatureCommunications：MoSe2/WSe2雙層異質(zhì)節(jié)中的陷阱勢和雙激子莫爾激子雖已被廣泛研究，但雙激子的形成以及導(dǎo)致層間激子局域化的捕獲機(jī)制迄今尚未揭示。瑞典查爾姆斯理工大學(xué)的維特萊夫?維喬雷克（WitlefWieczorek）團(tuán)隊(duì)使用集成了低溫復(fù)消色差物鏡（LT-APO/NIR）和納米定位器ANSxy100lr/LT的低震動無液氦磁體與恒溫器attoDRY800，對扭曲的MoSe2/WSe2異質(zhì)雙層進(jìn)行光致發(fā)光光譜測量，確定了層間激子的兩種主要捕獲勢...電學(xué)測量新篇章！M81、M91與多種設(shè)備聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)變溫、變磁場電學(xué)測量
2024-11-25 隨著QuantumDesign中國子公司與美國LakeShore公司的全面合作，QD中國子公司在國內(nèi)市場提供的儀器設(shè)備種類更加豐富。通過整合多家廠商的技術(shù)和設(shè)備優(yōu)勢，QD中國子公司能夠?yàn)閲鴥?nèi)科研用戶提供更加完善和個性化的測量解決方案。近年來，LakeShore推出的M81多通道高精度低噪聲綜合電學(xué)測量儀和M91快速霍爾測試儀受到了科研用戶的好評。這些設(shè)備不僅可以作為單獨(dú)的測量儀表使用，還能與多種低溫、磁體、探針臺等設(shè)備聯(lián)合使用，成為功能更加全面，用途更加廣泛的電學(xué)測量系統(tǒng)。?...低溫光學(xué)平臺中的精密測量技術(shù)與創(chuàng)新應(yīng)用
2024-11-24 在科學(xué)研究的廣袤領(lǐng)域中，低溫光學(xué)研究平臺宛如一座神秘的橋梁，連接著我們對微觀世界的無盡探索與未知奧秘。低溫光學(xué)研究平臺是一種專門設(shè)計(jì)用于在極低溫條件下進(jìn)行光學(xué)實(shí)驗(yàn)和研究的設(shè)備。它的出現(xiàn)為科學(xué)家們提供了一個實(shí)驗(yàn)環(huán)境，使他們能夠更深入地探究物質(zhì)在低溫狀態(tài)下的光學(xué)特性。其工作原理涉及到復(fù)雜的溫度控制和光學(xué)檢測技術(shù)。通過精確的冷卻系統(tǒng)，將實(shí)驗(yàn)樣品降低的溫度，通常可以達(dá)到幾開爾文甚至接近絕對零度。在這樣的低溫條件下，物質(zhì)的原子和分子的熱運(yùn)動大幅減緩，其量子特性更加顯著，從而為光學(xué)研究提...低溫強(qiáng)磁場下的拉曼光譜：揭示材料的電子與振動特性
2024-11-22 在科學(xué)探索的征程中，低溫強(qiáng)磁場拉曼顯微鏡宛如一位神奇的洞察者，以其功能和強(qiáng)大的性能，開啟了對微觀世界的深入研究之門。低溫強(qiáng)磁場拉曼顯微鏡是一種將低溫環(huán)境、強(qiáng)磁場條件與高分辨率拉曼光譜技術(shù)相結(jié)合的先進(jìn)儀器。其工作原理復(fù)雜而精妙。通過低溫系統(tǒng)將樣品冷卻到極低溫度，抑制熱噪聲和熱運(yùn)動，使物質(zhì)的量子特性得以顯現(xiàn)。強(qiáng)磁場則可以對材料的電子結(jié)構(gòu)和磁性產(chǎn)生顯著影響，為研究帶來新的視角。而拉曼光譜技術(shù)則通過測量散射光的頻率變化，獲取樣品的分子振動和晶格振動等信息，從而揭示物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。這...新一代高分辨化學(xué)成像顯微鏡，突破熒光限制，開啟生命科學(xué)新紀(jì)元！
2024-11-19 導(dǎo)讀：近年來，光學(xué)顯微鏡的技術(shù)發(fā)展日新月異。其中，熒光顯微鏡技術(shù)的迅猛發(fā)展更是極大地改變了生命科學(xué)的研究方式，已經(jīng)成為目前生命科學(xué)研究者對細(xì)胞、組織進(jìn)行成像的方法。然而，熒光顯微鏡技術(shù)均需要對成像目標(biāo)進(jìn)行熒光分子探針標(biāo)記。這類熒光分子探針常易受光、氧、溫度、pH等因素的影響，從而失去活性，導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確；并且有些熒光探針對不同的目標(biāo)分子具有一定的親和性，這導(dǎo)致無法對目標(biāo)分子進(jìn)行準(zhǔn)確的測量，特異性不高。此外，由于熒光顯微鏡的波段限制，一次實(shí)驗(yàn)通常不能使用超過6種顏色的熒光標(biāo)...8.1 Kg、40s測量！μ-X360J全新來襲，讓殘余應(yīng)力檢測輕松又精準(zhǔn)！
2024-11-18 X射線是表面殘余應(yīng)力測定技術(shù)中為數(shù)不多的無損檢測法之一，是通過測量材料或制品晶面間距的變化來確定應(yīng)力的，至今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的殘余應(yīng)力分析和檢測方法之一，被廣泛的應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)的各個領(lǐng)域。2012年，日本Pulstec公司研發(fā)出基于全二維面探測器技術(shù)和cosα殘余應(yīng)力分析方法的新一代便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀——μ-X360系列，將X射線研究殘余應(yīng)力的測量速度和精度提升到了一個全新的高度。該設(shè)備由于技術(shù)先進(jìn)、測試數(shù)據(jù)可重復(fù)性高、使用便攜等優(yōu)勢，一經(jīng)推...諾貝爾獎技術(shù)加持！激光冷卻技術(shù)助力FIB新革命！
2024-11-15 聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種將高能離子流聚焦成細(xì)束的儀器，可對樣品進(jìn)行精密操作，尤其擅長對微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高精度的切割、成像和修復(fù)。隨著FIB技術(shù)的進(jìn)步，其應(yīng)用范圍已從早期的半導(dǎo)體制備擴(kuò)展到材料科學(xué)、納米加工以及高分辨率成像等領(lǐng)域。傳統(tǒng)的FIB系統(tǒng)多基于鎵（Ga+）離子源，其強(qiáng)度較低且樣品污染性較高。近年來，基于氦（He+）和鋰（Li+）等輕元素的離子源技術(shù)相繼被開發(fā)，但仍然無法克服空間分辨率和樣品損害問題。銫（Cs+）和銣（Rb+）作為新的離子源材料，具有出色的性能。zero...
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